吴永前，博士，正高级工程师，博士生导师。主要从事高精度检测技术研究、大型非球面测量技术研究、能动光学技术研究等。

近年作为第一负责人承担了科技部重大专项02专项检测课题、863、中科院重大研制项目、自然基金等课题。完成亚纳米级12寸干涉测量设备自主研制，检测精度达到Rms 0.1nm，比同类进口设备精度提升两倍，满足193nm投影光刻镜头的使用要求；主持了中科院重大研制项目，研制的高精度面形测量设备检测精度达到Rms78pm，为我国光刻机研制及同步辐射核心光学元件研制多个领域提供精确面形检测手段；研发了红外干涉仪、瞬态干涉仪、折反式补偿器等多种测量设备，带领团队建立了大型望远镜光学部件全流程的交叉检测体系。

近年来在国内外核心期刊和国际会议上发表论文20余篇，申请专利30余项，参加发表专著《现代光学制造工程》。获四川省科技创新人才项目支持。

招生方向：超高精度测量、复杂形貌测量、超精密设备研制、自动测量技术、超精密相位提取技术