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杨伟

  • 职称:副研究员
  • 联系电话:028-85101315
  • E-mail:ywei@ioe.ac.cn
  • 邮政编码:610209
  • 通讯地址:四川成都双流西航港光电大道1号
  • 招生专业:测试计量技术及仪器;电子信息
  • 研究领域:轻量化光学材料特性参数检测技术研究;薄膜光学成像技术关键检测技术研究,包括系统像质检测、系统动态稳像检测和非完善成像对准检测技术等;光电系统综合性能仿真及自动化检测技术研究。

杨伟:博士、副研究员,硕士生导师。中科院青年科技促会会员。研究领域为光电系统综合性能仿真及自动化检测技术研究、轻量化光学材料特性参数检测技术研究;微纳薄膜光学成像技术关键检测技术研究。

作为主要技术骨干、课题负责人等参与并完成8余项课题和项目,主要从事先进光学测试及自动化检测装置研制工作。近年来在国内外重要学术刊物和国际会议上发表论文20余篇。申请发明专利12项,已授权8项。

指导和协助指导硕士、博士研究生8余名。目前作为测试计量及自动化-系统综合性能仿真及自动化检测技术学术带头人培养建立研究型职工团队和研究生团队,致力于为我国先进光学检测技术及自动化检测装置研制做出贡献。



个人主页:http://people.ucas.ac.cn/~ywei